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簡要描述：X射線熒光光譜儀應(yīng)用（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
產(chǎn)品型號(hào)：EDX-A70廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-05訪 問 量：114產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 新典儀器 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 0.5cm-1eV | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-30萬 |
| 儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,建材,電子,汽車,綜合 |
X射線熒光光譜儀應(yīng)用
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
優(yōu)點(diǎn)
1.分析速度快，測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，10-300秒就可以測(cè)部待測(cè)元素。
2.x射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體，粉末，液體及晶質(zhì)，非晶質(zhì)等物體的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系，但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化鄧現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著，波長變化用于化學(xué)的測(cè)定。
3.非破壞分析，在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)式樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重復(fù)性好。
4.X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密高，含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到PPM級(jí)別。
6.制樣簡單，固體，粉末，液體樣品鄧都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn)
1.定量分析需要標(biāo)樣
2.對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受元素相互干擾和疊加峰影響
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