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簡(jiǎn)要描述：XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專(zhuān)用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿(mǎn)足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。
產(chǎn)品型號(hào)：XAD-200廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2025-07-23訪(fǎng) 問(wèn) 量：216相關(guān)文章
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| 品牌 | 福佰特 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,建材/家具,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件 |
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專(zhuān)用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿(mǎn)足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。
被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
1）搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線(xiàn)發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測(cè)量面積達(dá)0.03mm2
2）擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm
3）核心EFP算法，可對(duì)多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守，對(duì)成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)
5）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
6）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）
7）RoHS、鹵素有害元素檢測(cè)
8）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
9）標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
10）配有微光聚集技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
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